Labor - und Produktionsmesstechnik
1


Das ERM-202 ist ein Zweikanal-Polarisations-Extinktionsverhältnis-(PER)-Messgerät, das speziell zur simultanen Messung der PER- und des Leistungsverhältnisses optischer Komponenten mit zwei polarisationserhaltenden (PM) Faserausgängen wie PM-Koppler, PM-Strahlteiler, Kopplern von PM-Faserkreiseln entwickelt wurde.
Der OCA-1000 ist ein optischer Mehrkanal-Komponentenanalysator, der in der Lage ist, Einfügungsdämpfung (IL), polarisationsabhängige Dämpfung (PDL) und optische Leistung (P) auf mehreren optischen Ports parallel zu messen.
Der DOP-201 misst und zeigt den Polarisationsgrad (DOP) einer Lichtquelle in Echtzeit mit hoher Genauigkeit und großem Dynamikbereich an.
Das 4-Achsen-Polarisations-Scrambler-Modul von General Photonics nutzt eine bahnbrechende Allfasertechnologie, um Polarisationszustände effektiv zu durchmischen.
General Photonics Hochgeschwindigkeits-PSG-Modul (Polarization State Generator) ermöglicht in weniger als 250 ?s die Erzeugung von 6 Polarisationszuständen (-45 °, 0 °, 45 °, 90 °, RHC und LHC) auf der Poincaré-Kugel, mit einer beeindruckenden Wiederholbarkeit von weniger als 0,1 Grad.
Dieses Modul integriert General Photonics faserbasierten Polarisationskontroller mit einer Miniatur-Piezo-Treiberkarte, so dass die SOP des Signals entweder direkt von einem 0-5V analogen Steuersignal oder einem 12-Bit TTL digitalen Steuersignal gesteuert werden kann. Da ein Hochvolt-Gleichstrom-Wandler an Bord vorhanden ist, wird keine externe Hochspannungsversorgung benötigt.
Der rein faserbasierte Phasenschieber/-modulator FPS-002 von General Photonics sorgt für Phasenverschiebungen bis 55 π bei Frequenzen von 0 bis 60 kHz. Der FPS-003 Phasenschieber / Modulator kombiniert eine große Modulationsbandbreite (bis zu 60 kHz) mit niedrigen Treiberspannung, das von Standardfunktionsgeneratoren angesteuert werden kann.

General Photonics optisches Kohärenz-Bereichs-Reflektometer (Optical Coherence Domain Reflectometer) InsideView™ OCDR-1000 ermöglicht es Reflexionsstellen in faseroptischen Komponenten und photonischen integrierten Schaltkreisen (PIC) oder Wellenleiterstrukturen mit hoher örtlicher Auflösung zu detektieren.