Optical Coherence Domain Reflectometer - InsideView™ OCDR-1000

Optical Coherence Domain Reflectometer - InsideView™ OCDR-1000
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Artikel-Nr.: GPC-OCDR-1000

General Photonics optisches Kohärenz-Bereichs-Reflektometer (Optical Coherence Domain Reflectometer) InsideView™ OCDR-1000 ermöglicht es Reflexionsstellen in faseroptischen Komponenten und photonischen integrierten Schaltkreisen (PIC) oder Wellenleiterstrukturen mit hoher örtlicher Auflösung zu detektieren.

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Faseroptik Team

Beschreibung

Optical Coherence Domain Reflectometer -  OCDR-1000

Das OCDR-1000 ist eine kostengünstigere Alternative zu optischen Frequenzbereichs-Reflektometern (Optical Frequency Domain Reflectometer).

Es basiert auf General Photonics proprietären polarisationsoptimiertem Weisslicht-Interferometer.

An der Grenzfläche einer optischen Komponente tritt bei Einkopplung des optischen Signals in der Regel eine hohe Reflexion auf. In OFDR-Mess-Systemen maskiert diese starke Eingangsreflexion nachfolgende Reflexionsereignisse. Durch den hohen Dynamikbereich von 80 dB ist das OCDR-1000 in der Lage auch schwache Reflexionsstellen direkt hinter der Eingangsgrenzfläche zu erkennen.

Das InsideView™ OCDR-1000 kann Komponenten mit einer Länge bis zu 600 mm vermessen.

Ein Kit mit mehreren Verzögerungsleitungen definierter Länge ermöglicht die Anpassung des Messaufbaus an die Pigtaillängen der zu messende Komponenten und Verschiebung des Messbereichs an die interessierende Stelle.

Mit einem Dynamikbereich von 80 dB und einer Auflösung von 10µm hilft dieses Gerät Ingenieuren und Entwicklern in das innere faseroptische Komponenten zu blicken, um interne Defekte und Reflexionsstellen mit hoher Genauigkeit zu identifizieren und zu lokalisieren.

Eigenschaften  

  • hoher Dynamikbereich > 80 dB
  • Scanbereich: 600 mm in Luft (400 mm in Faser)
  • Ortsauflösung: <= 10µm
  • Kompakte und leichte Bauform
  • Eingebaute Lichtquelle
  • Bietet gleiche oder bessere Perfromance wie das nicht mehr verfügbare Agilent Reflektometer 8504B

Anwendungen

  • Optische Charaktersierung von
    • Photonisch integrierten Schaltungen (PIC)
    • Faseroptischen Komponenten
    • Planaren Wellenleiterstrukturen
  • Genaue Messung der Rückflussdämpfung
  • Ortsaufgelöste Messung der Reflexion