Artikel-Nr.: DAT-WinCamD-LCM
Dieser Laser Beam Profiler verfügt über einen CMOS Sensor, der Bildraten von bis zu 60 Hz bei hoher Dynamik garantiert und ist für große Strahldurchmesser bis 11 mm geeignet.
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Beschreibung
DataRay’s WinCamD-LCM Laser Beam Profiler (Strahlanalyse-Kamera) vermisst gepulste und Dauerstrich-Laser nun mit Frameraten von bis zu 60 Hz bei sehr hoher Auflösung (2048 x 2048 Pixel). Für den Betrieb der Kamera ist keine externe Spannungsversorgung erforderlich.
Der Laser Beam Profiler wird standardmäßig mit 3 Neutraldichtefiltern mit den optischen Dichten OD1, OD2 und OD4 geliefert. Diese sind magnetisch vor der C-Mount Öffnung fixiert und können frei miteinander kombiniert werden.
Die Anwendungen umfassen von der Laserstrahlanalyse gepulster und CW-Laser den Service-Einsatz im Feld von Lasersystemen optischen Aufbauten, Justage, Überwachung der Strahlrichtungsstabilität, Qualitätskontrolle und M²-Messung mit passender M²-Stage.
| Spezifikation | Detail |
|---|---|
| Varianten | WinCamD-LCM: 355 to 1150 nm WinCamD-LCM-1310: 355 to 1350 nm (includes long pass filter) WinCamD-LCM-TEL: 1480 to 1605 nm WinCamD-LCM-UV: 190 to 1150 nm |
| Pixelzahl‚ H x V | 4.2 MPixel‚ 2048 x 2048 |
| Optisches Format | 1" |
| Bildfläche | 11.3 x 11.3 mm |
| Pixel-Dimension | 5.5 x 5.5 µm |
| Min. Strahl (10 Pixel) | ~55 µm |
| Verschlusstyp | Global |
| Max. Vollbildrate | 60 Hz |
| Einzelimpuls-Erfassung PRR | USB 2.0: 6.3 kHz USB 3.0: 12.6 kHz |
| Signal zu RMS-Rauschen | 2,500:1 (34 dB optisch / 68 dB elektrisch) |
| Elektronischer Verschlussbereich | USB 2.0: 12,600:1 (41 dB) USB 3.0: 25,000:1 (44 dB) |
| ADC | 12-bit |
| Messbare Quellen | CW-Strahlen' gepulste Quellen; CW bis 12,6 kHz mit Einzelimpuls-Isolierung Software-konfigurierbarer Auto-Trigger' Synchron & variable Verzögerung |
| Manuelle Strahldämpfung | Umfasst magnetische ND-1-, ND-2- und ND-4-Filter oder C-Mount-ND-Filter |
Die aktuelle Software kann auf der Herstellerseite kostenlos herunter geladen werden.
Aktuelle Datenblätter, Application Notes, White Papers, und Handbücher sind hier verfügbar.
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