Das SMART-Control Interface erweitert die Kompaktspektrometer von StellarNet um vielfältige Kommunikationsoptionen von 4-20 mA über I2C bis WLAN.
Optische Messtechnik
Die HYPERNova-Serie bietet beste Signal-Rausch-Verhältnisse und hohen Dynamikumfang im bekannt robusten und kompakten StellarNet Design.
Das StellarCase-Fluoro liefert schnelle Fluoreszenzmessungen auf Knopfdruck. Durch die robuste Bauweise und einfache Handhabung eignet es sich hervorragend für den Einsatz im Feld für Forschung und Lehre.
Hochleistungs-NIR-InGaAs Spektrometer für den Wellenlängenbereich von 0.9-1.7 nm
Die Raman-Sonde wurde für die Nutzung mit unseren Multi-Mode-Diodenlasern von IPS optimiert und bietet höhsten Durchsatz und geringes Streulicht.
Bei dem GlacierX von B&W Tek handelt es sich um ein TEC gekühltes CCD Spektrometer. Das kompakte Spektrometer eignet sich ideal für Anwendungen im Bereich 200 - 1050 nm.
Das Spektrometer Quest ™ X von B&W Tek eignet sich hervorragend für Spektroskopische Messungen im Bereich von 200 -1050 nm. Durch die Temperaturstabilisierung des Detektors werden thermische Abweichungen reduziert und die Stabilität der Messungen verbessert.
Das Exemplar® Plus von B&W Tek ist ein smartes Spektrometer. Der gekühlte back-thinned Detektor überzeugt mit höchster Empfindlichkeit und sehr hohem Dynamik Bereich.
Das Exemplar® Plus LS von B&W Tek ist ein smartes Spektrometer im Bereich 180 – 1100 nm. Sie profitieren von einem holographischem Konkavgitter für minimales Streulicht und einem gekühlten back-thinned Detektor mit höchster Empfindlichkeit.
Das Sol 1.7 Spektrometer von B&W Tek überzeugt durch höchsten Durchsatz und höchsten Dynamik-Bereich dank Einsatz eines gekühlten 512 Pixel InGaAs Detektors.
Das Sol 2.2A InGaAs Spektrometer von B&W Tek verfügt über ein Spektrum von 900 – 2200nm, einen hohen Dynamik-Bereich dank 256 Pixel Detektor und höchsten Lichtdurchsatz bei Verwendung des optischen Aufbaus.
High-Performance InGaAs Spektrometer von B&W Tek mit gekühltem InGaAs Detektor und spektralem Bereich von 1550 – 2550 nm
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Das ILM-System von DataRay dient der Strahlprofil-Überwachung von Hochleistungslasern bestehend aus einem Abschwächer für hohe Leistungen, einem abbildenden Linsensystem und einem Kamerasystem. Die Vermessung sehr kleiner Laserstrahlen mit Durchmessern weniger Mikrometer ist hiermit trotz oft hoher Laserleistungen möglich.
