Diese BK7 Optical Circle Flats sind einseitig präzisionspoliert und bieten eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität.
Filters
!shop!_Art
- Keilförmige Substrate - Optische Platten
!shop!_Art
1
Substrate
Diese BK7 Optical Square Flats sind einseitig präzisionspoliert und weisen eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität auf.
Diese BK7 Optical Rectangle Flats sind auf einer Seite auf eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität präzisionspoliert.
Diese BK7 Optical Flats sind auf beiden Seiten auf eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität poliert.
Diese SiO2 Optical Circle Flats sind einseitig präzisionspoliert und haben eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität.
Diese SiO2 Optical Square Flats sind einseitig präzisionspoliert und weisen eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität auf.
Diese SiO2 Optical Rectangle Flats sind auf einer Seite auf eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität präzisionspoliert.
Diese SiO2 Optical Flats sind beidseitig auf eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität poliert.
Diese PX-Optikplatten sind beidseitig auf eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität poliert.
Diese PX-Optikplatten sind beidseitig auf eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität poliert.
Diese PX-Optikplatten sind beidseitig auf eine hohe Genauigkeit und Oberflächenqualität poliert.
Diese verkeilten Substrate können den reflektierten Strahl durch die Vorder- und Rückfläche der Substrate durch den leichten Keilwinkel trennen. Werkstoff: BK7.
Beliebte Artikel
Dieser Laser Beam Profiler verfügt über einen CMOS Sensor, der Bildraten von bis zu 60 Hz bei hoher Dynamik garantiert und ist für große Strahldurchmesser bis 11 mm geeignet.
Die Strahlanalysekamera WinCamD-IR-BB mit integriertem Mikrobolometer-Array ermöglicht Analysen an langwelligen Lasern im Bereich von 2 µm bis 16 µm.
Der Laser Beam Profiler von DataRay verfügt über einen CQD Sensor, welcher im Bereich von 400 - 1700 nm empfindlich ist und Auflösungen von bis zu 1920 x 1080 Pixel bietet.
Das ILM-System von DataRay dient der Strahlprofil-Überwachung von Hochleistungslasern bestehend aus einem Abschwächer für hohe Leistungen, einem abbildenden Linsensystem und einem Kamerasystem. Die Vermessung sehr kleiner Laserstrahlen mit Durchmessern weniger Mikrometer ist hiermit trotz oft hoher Laserleistungen möglich.
