Laserstrahlprofil und Qualitätsmessung
Laserstrahlprofil- und M²-Messung

In der Materialbearbeitung und Messtechnik wird häufig von Güte und Qualität der Strahlung gesprochen. Darunter wird je nach Anwendung die zeitliche und örtliche Stabilität der Ausgangsleistung, die Breite des Frequenzspektrums, die zeitliche und örtliche Kohärenz und auch die Größe der Strahldivergenz verstanden, welche mit der Fokussierbarkeit der Strahlung zusammenhängt.



Dieser Laser Beam Profiler verfügt über einen CMOS Sensor, der Bildraten von bis zu 60 Hz bei hoher Dynamik garantiert und ist für große Strahldurchmesser bis 11 mm geeignet.

Die Strahlanalysekamera WinCamD-IR-BB mit integriertem Mikrobolometer-Array ermöglicht Analysen an langwelligen Lasern im Bereich von 2 µm bis 16 µm.

Der Laser Beam Profiler von DataRay verfügt über einen CQD Sensor, welcher im Bereich von 400 - 1700 nm empfindlich ist und Auflösungen von bis zu 1920 x 1080 Pixel bietet.

Das ILM-System von DataRay dient der Strahlprofil-Überwachung von Hochleistungslasern bestehend aus einem Abschwächer für hohe Leistungen, einem abbildenden Linsensystem und einem Kamerasystem. Die Vermessung sehr kleiner Laserstrahlen mit Durchmessern weniger Mikrometer ist hiermit trotz oft hoher Laserleistungen möglich.

DAT-BladeCam2-(X)HR

Die Strahlprofil-Kameras BladeCam2-HR und BladeCam2-XHR kombinieren eine extrem kompakte Bauform (Gehäusetiefe von nur 12.84 mm) mit einer sehr hohen Auflösung.

DAT-WinCamD-IRBB-CO2

Die DataRay Strahlanalysekamera WinCamD-IRBB kombiniert mit dem polarisationserhaltenden Strahlteiler PPBS ermöglicht sie auch die Vermessung von leistungsstarken CO2-Lasern.

DAT-Attenuation

Übersicht diverser Abschwächeroptionen wie absorbierende und reflektierende Neutraldichte-Filter, sowie polarisationserhaltende, kompakte und variable Abschwächer.

Mit Hilfe der UV-Konverteroptiken ist die Bestimmung der Intensitätsverteilung von UV-Laserstrahlung mit Beam Profilern der WinCamD-Serie aber auch mit "normalen" CCD oder CMOS-Kameras möglich.

IR-Konverteroptik für Beam Profiler zur Messung von Intensitätsverteilung im NIR Bereich zwischen 1480 und 1605 nm.