Im Allgemeinen hat ein Ellipsoid zwei Brennpunkte und das Licht, das durch den einen Brennpunkt fällt, fällt auch durch den anderen Brennpunkt, nachdem es von der elliptischen Oberfläche reflektiert wurde. Wenn eine Lichtquelle auf einen Brennpunkt gerichtet wird, ist es nach diesem Prinzip möglich, Licht im anderen Brennpunkt zu sammeln.
Hierbei handelt es sich um einen aufgedampften Aluminium-Flachspiegel, bei dem das Substrat mit hoher Genauigkeit poliert wurde und der für eine hohe Reflektivität bei jedem Einfallswinkel ausgelegt ist.
Hierbei handelt es sich um einen aufgedampften Aluminium-Flachspiegel, bei dem das Substrat mit hoher Genauigkeit poliert wurde und der für eine hohe Reflektivität bei jedem Einfallswinkel ausgelegt ist.
Hierbei handelt es sich um einen aufgedampften Aluminium-Flachspiegel, bei dem das Substrat mit hoher Genauigkeit poliert wurde und der für eine hohe Reflektivität bei jedem Einfallswinkel ausgelegt ist.
Hierbei handelt es sich um einen aufgedampften Aluminium-Flachspiegel, bei dem das Substrat mit hoher Genauigkeit poliert wurde und der für eine hohe Reflektivität bei jedem Einfallswinkel ausgelegt ist.
Hierbei handelt es sich um einen aufgedampften Aluminium-Flachspiegel, bei dem das Substrat mit hoher Genauigkeit poliert wurde und der für eine hohe Reflektivität bei jedem Einfallswinkel ausgelegt ist.
Hierbei handelt es sich um einen aufgedampften Aluminium-Flachspiegel, bei dem das Substrat mit hoher Genauigkeit poliert wurde und der für eine hohe Reflektivität bei jedem Einfallswinkel ausgelegt ist.
Sie können die dielektrischen Weitwinkelspiegel 0 - 45° für ein optisches System zum Hin- und Herbewegen des Lichts zwischen zwei Spiegeln oder Michelson-Interferometer verwenden, wenn Sie einen Spiegel mit einem Einfallswinkel von 45° oder weniger verwenden möchten.
Dieser Laser Beam Profiler verfügt über einen CMOS Sensor, der Bildraten von bis zu 60 Hz bei hoher Dynamik garantiert und ist für große Strahldurchmesser bis 11 mm geeignet.
Die Strahlanalysekamera WinCamD-IR-BB mit integriertem Mikrobolometer-Array ermöglicht Analysen an langwelligen Lasern im Bereich von 2 µm bis 16 µm.
Das ILM-System von DataRay dient der Strahlprofil-Überwachung von Hochleistungslasern bestehend aus einem Abschwächer für hohe Leistungen, einem abbildenden Linsensystem und einem Kamerasystem. Die Vermessung sehr kleiner Laserstrahlen mit Durchmessern weniger Mikrometer ist hiermit trotz oft hoher Laserleistungen möglich.
