Streuungsarme Substrate, SiO2, Keilförmig

Material: Quarzglas
Oberflächenebenheit: λ/10
Einfallswinkel: 1°±5´
Keilwinkel W: 1°±5´

Artikel-Nr.: OSE-WSSQSP-30C05-10-1

Diese streuungsarmen Substrate sind bei Hochleistungslaser- und Röntgenanwendungen sehr gefragt.

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Beschreibung