Streuungsarme Substrate, SiO2, Keilförmig

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Artikel-Nr.: OSE-WSSQSP-30C05-10-1

Diese streuungsarmen Substrate sind bei Hochleistungslaser- und Röntgenanwendungen sehr gefragt.

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Beschreibung

  • Material: Quarzglas
  • Oberflächenebenheit: λ/10
  • Einfallswinkel: 1°±5´
  • Keilwinkel W: 1°±5´