Quartz-Wellenplatten

Artikel-Nr.: OSE-WPQ-2660-2M

Quarz-Wellenplatten sind Verzögerungsplatten nullter Ordnung, die aus Paaren von optisch kontaktierten chrystallinen Quarzplatten zusammengesetzt und auf Aluminiumrahmen montiert sind.

Wellenlängenbereich in nm

Phasenunterschied (1064 nm)

Wellenlängenbereich in nm

Phasenunterschied (1064 nm)

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Beschreibung

Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 266
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 133
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 325
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 162.5
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 355
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 177.5
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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OSE-WPQ-3550-2M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 405
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 202.5
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4050-2M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 410
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 205
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4100-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 441.6
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 220.8
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4416-2M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 457.9
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 229
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4579-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 488
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 244
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4880-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 514.5
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 257.3
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-5145-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 532
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 266
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-5320-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 632.8
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 316.4
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-6328-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 670
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 335
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-6700-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 780
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 390
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-7800-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 830
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 415
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-8300-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1064
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 532
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-10640-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1300
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 650
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-13000-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1550
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 775
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-15500-2M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 266
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 66.5
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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OSE-WPQ-2660-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 325
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 81.3
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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OSE-WPQ-3250-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 355
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 88.8
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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OSE-WPQ-3550-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 405
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 101.3
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4050-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 410
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 102.5
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4100-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 441.6
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 110.4
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4416-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 457.9
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 114.5
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4579-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 488
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 122
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4880-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 514.5
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 128.6
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-5145-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 532
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 133
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-5320-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 632.8
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 158.2
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-6328-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 670
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 167.5
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-6700-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 780
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 195
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-7800-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 830
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 207.5
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-8300-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1064
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 266
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-10640-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1300
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 325
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-13000-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1550
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 387.5
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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