Quartz-Wellenplatten

Artikel-Nr.: OSE-WPQ-2660-2M

Quarz-Wellenplatten sind Verzögerungsplatten nullter Ordnung, die aus Paaren von optisch kontaktierten chrystallinen Quarzplatten zusammengesetzt und auf Aluminiumrahmen montiert sind.

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Phasenunterschied (1064 nm)

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Beschreibung

Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 266
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 133
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 325
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 162.5
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 355
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 177.5
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 405
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 202.5
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4050-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 410
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 205
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 441.6
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 220.8
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4416-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 457.9
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 229
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4579-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 488
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 244
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4880-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 514.5
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 257.3
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 532
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 266
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 632.8
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 316.4
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 670
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 335
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 780
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 390
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-7800-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 830
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 415
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-8300-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1064
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 532
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-10640-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1300
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 650
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-13000-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1550
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm: 775
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-15500-2M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 266
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 66.5
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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OSE-WPQ-2660-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 325
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 81.3
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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OSE-WPQ-3250-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 355
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 88.8
Verzögerungstoleranz: < λ/50

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OSE-WPQ-3550-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 405
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 101.3
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4050-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 410
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 102.5
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4100-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 441.6
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 110.4
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4416-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 457.9
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 114.5
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4579-4M_STP.zip

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Opt_Polarizers_.zip

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 488
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 122
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-4880-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 514.5
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 128.6
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-5145-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 532
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 133
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-5320-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 632.8
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 158.2
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-6328-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 670
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 167.5
Verzögerungstoleranz: λ/100 - λ/200

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OSE-WPQ-6700-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 780
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 195
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-7800-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 830
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 207.5
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-8300-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1064
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 266
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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OSE-WPQ-10640-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1300
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 325
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1550
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98.5
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 1
Oberflächenplanität des Subtrats: λ/10
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 17×17
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm: 387.5
Verzögerungstoleranz: λ/200 - λ/500

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