Streuungsarme Substrate, SiO2

Material: Quarzglas
Oberflächenebenheit: λ/10
Parallelität in ´´: &lt;5

Artikel-Nr.: OSE-OPSQSP-30C03-10-5

Diese streuungsarmen Substrate sind für Hochleistungslaser- und Röntgenanwendungen sehr gefragt.

Durchmesser in mm

Dicke in mm

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Beschreibung