Infrarot Imaging bietet als Ergänzung zur Bildgebung im sichtbaren Bereich (400-780 nm) neue Möglichkeiten in vielen Anwendungsfeldern. So sind bestimmte Materialien im Sichtbaren lichtundurchlässig oder Farbaufträge stören eine zuverlässige Bewertung der Produktqualität. Infrarot-Bildgebung ermöglicht in vielen Fällen tiefere Einsichten.
Nah- und kurzwelliges Infrarot (NIR/SWIR) kommt unter anderem bei der Silicium-Inspektion in der Halbleiter- oder Solarzellenfertigung zum Einsatz. Hierbei wird das Si-Substrat transparent und dadurch mögliche Verunreinigungen und Defekte erkennbar. Der mittlere und langwellige (MWIR/LWIR) Infrarotbereich macht aufgrund direkter molekularer Absorption oder thermischer Differenzen beispielsweise kleine Gas- und Flüssigkeitsleckagen sichtbar oder zeigt mit thermischer Bildgebung die Störungen und Schwachstellen in mechanischen oder elektrischen Anlagen auf. Die chemische Bildgebung erlaubt es, gleichartig aussehende Materialien durch ihre molekulare Zusammensetzung zu unterscheiden.
