Reference number: DAT-BeamR2
Découvrez ci-dessous l'analyseur de faisceaux Dataray à balayage de fentes pour vos sources Lasers dans la gamme 190 - 2500 nm.
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Description
Balayage de fentes (Beam Profiler) - BeamR2 : 190 - 2500 nm
Cette version basique d'analyseur de faisceaux Laser à balayage de fente peut être utilisée pour des lasers continus et pulsés. Le disque rotatif présente 4 fentes (2 paires XY) sur un seul plan perpendiculaire au faisceau. Cette configuration permet la mesure de faisceau avec des diamètres allant de 2µm à 3mm sans avoir besoin de changer les fentes.
Le système peut être retourné autour de l'axe optique. Un encodeur intégré indique l'angle de rotation dans le logiciel. Cela permet une localisation simple de l'axe principal d'un faisceau elliptique en tournant la tête de mesure autour de l'axe. La vitesse de mesure est >3 Hz. Les profils sont enregistrés avec une dynamique de 12-bit. La résolution spatiale du système est <0.1µm.
Le système BeamR2 est le la solution de balayage de fentes la plus économique et utilisée pour la mesure de profiles de faisceau avec de faibles distributions d'intensité. La mesure de sources pulsées (>100 Hz) est possible. La puissance optique d'entrée maximale est de 1 W (1 mW/µm2).
| Références
| Technologie
| Gamme de longueur d?onde |
| BeamR2-Si | Silicium | 190 ? 1150 nm |
| BeamR2-InGaAs | InGaAs | 650 ? 1800 nm |
| BeamR2-DD | Silicium + InGaAs | 190 ? 2500 nm |
Points clés de l'analyseur de faisceaux Laser BeamR2 :
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